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Port d'affichage

Brève description:

Connecteur DP, port d'affichage


Détail du produit

Étiquettes de produit

Connecteur de port d'affichage

● Spécifications du produit

Note actuelle: 0,5 A
Tension nominale : 40 V CA
Contacter la résistance : Contact : 30 mΩ Max. Coque : 50 mΩ Max.
Température de fonctionnement : -20℃~+85℃
La resistance d'isolement: 100MΩ
Tenir la tension 500V CA/60S
Température de traitement max. : 260℃ pendant 10 secondes
Matériel de contact : Alliage de cuivre
Matériau du boîtier : Thermoplastique haute température.UL 94V-0

● Schémas cotés

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● PORTÉE

Cette spécification de produit couvre les exigences de performances mécaniques, électriques et environnementales et les méthodes de test pour les produits de la série de connecteurs Display Port au pas de 1,0 mm.

● CONCEPTION, CONSTRUCTION ET MATÉRIAUX :

Le connecteur doit être de la conception, de la construction, des dimensions physiques et des matériaux spécifiés sur le dessin de vente applicable.

● DESCRIPTION DES PERFORMANCES ET DES TESTS:

3.1 Exigence de performance:Le connecteur doit être conçu pour répondre aux exigences de performances électriques, mécaniques et environnementales spécifiées au paragraphe 5

3.2 Tension nominale : 40 V CA

3.3 Courant nominal : 0,5 A

3.4 Plage de température de fonctionnement : -20℃ à +85℃

● EXIGENCES ET PROCÉDURES DE TEST

 

ÉLÉMENT D'ESSAI

CONDITION DE TEST

EXIGENCE

Apparence Inspection visuelle Répondre aux exigences du dessin du produit.Aucun dommage physique.

PERFORMANCES ÉLECTRIQUES

Résistance de contact de bas niveau Connecteur accouplé, contacts : mesure par circuit sec, 20 mV max., 10 mA. (EIA-364-23) Coque : mesurée par circuit ouvert, 5 V max., 100 mA. Contact : 30 mΩ max. ;

Coque : 50 mΩ max.

Tension de tenue diélectrique Connecteurs non accouplés, appliquez 500 V CA (RMS.) pendant 1 minute entre la borne adjacente ou la terre.Connecteurs accouplés, appliquez 300 V AC (RMS.) pendant 1 minute entre la borne adjacente ou la terre. (EIA-364-20) Pas de panne
La resistance d'isolement Connecteurs non accouplés, appliquez 500 V CC entre la borne adjacente ou la terre.Connecteurs accouplés, appliquez 150 V CC entre la borne adjacente ou la terre. (EIA-364-21) 100 MΩ min. (sans connexion),

10 MΩ min. (accouplé)

Courant nominal de contact 55℃ maximum.ambiante, 85℃ Max.changement de température.(EIA-364-70, TP-70) 0,5 A min.
Tension nominale appliquée 40V AC (RMS.) continu max., sur n'importe quelle broche de signal par rapport au blindage. Pas de panne
Décharge électrostatique Testez les connecteurs non accouplés de 1 kVolt à 8 kVolt par pas de 1 kVolt à l'aide d'une sonde à bille de 8 mm.(CEI61000-4-2) Aucune preuve de décharge aux contacts À 8kVolts.
Atténuation 300KHz - 825MHz : -8db

828MHz - 2.475GHz : -21db

2.475GHz - 4.125GHz : -30db

Test de conformité HDMI ID de test de spécification 5-7

<-8db (300KHz - 825MHz)

<-21db (828MHz - 2.475GHz)

<-30db (2.475GHz - 4.125GHz)

TMDS signale l'impédance dans le domaine temporel Zone de connexion :

Tapez A:100Ω+-10%

Zone de transition : 100Ω+-10%

Secteur de câble : 100Ω+-5%

100Ω +/- 10%
Pas de décharge @8KV air @4KV contact Pas de décharge @8KV air @4KV contact Aucune preuve de décharge

PERFORMANCES MECANIQUES

Force d'insertion/force de retrait Insérez et retirez les connecteurs à une vitesse de 25 ± 3 mm par minute (EIA-364-13) Force d'insertion : 44,1 N max. ;Force de retrait : 9,8 ~ 39,2 N ;
Force de verrouillage Connecteur accouplé, appliquez une force d'extraction axiale dans la direction axiale à la vitesse de 13 mm/minute jusqu'à ce que le loquet soit désengagé ou endommagé. (EIA-364-98) Force de traction : 49,0 N min.Aucun dommage sur les deux connecteurs.
Force d'extraction terminale Assemblage dans le boîtier à une cadence de 25±3 mm par minute 2.94N Min.
Durabilité Mesurez la résistance de contact et de coque après ce qui suit.Cycle automatique : 10 000 cycles à 100 ± 50 cycles par heure (EIA-364-09) Contacter la résistance :

Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.

Vibration Amplitude : 1,52 mm PP ou 147 m/s2{15G} Temps de balayage : 50-2000-50 Hz en 20 minutes.Durée : 12 fois dans chaque axe X, Y et Z (total de 36 fois).Charge électrique : un courant continu de 100 mA doit circuler pendant l'essai.(EIA-364-28 Condition III Méthode 5A) Résistance de contact : Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.

PERFORMANCE ENVIRONNEMENTALE

Choc thermique 10 cycles de : a)-55℃ pendant 30 minutes ;b)+85℃ pendant 30 minutes ;(EIA-364-32, Condition I) Contacter la résistance :

Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.

Basse température Aucun dommage physique et électrique anormal

 

Température : -25 degrés

Durée : 250 heures

Aucun dommage physique ;Résistance de contact : Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.
Brouillard de sel Soumettez les connecteurs accouplés à 35+/-20C et 5+/-1% de sel pendant 48 heures.Après le test, rincez l'échantillon avec de l'eau et reconditionnez la température ambiante pendant 1 heure.(EIA-364-26B) Aucune corrosion préjudiciable autorisée dans la zone de contact et le métal de base exposé.
Humidité (A) Raccordez les connecteurs ensemble et effectuez le test comme suit : Température : +25 à +85℃ ;Humidité relative : 80 à 95 % ;Durée : quatre cycles (96 heures) ;À la fin du test, les spécimens doivent être conditionnés dans des conditions ambiantes ambiantes pendant 24 heures, après quoi les mesures spécifiées doivent être effectuées (EIA-364-31) Pas de dommage;Résistance de contact : Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.
(B) Raccordez les connecteurs non accouplés et effectuez le test comme suit : Température : +25 à +85℃ ;Humidité relative : 80 à 95 % ;Durée : quatre cycles (96 heures) ;À la fin du test, les spécimens doivent être conditionnés dans des conditions ambiantes ambiantes pendant 24 heures, après quoi les mesures spécifiées doivent être effectuées (EIA-364-31) Pas de dommage;Conforme à l'article de la tension de tenue diélectrique et de la résistance d'isolement
Vieillissement thermique Raccordez les connecteurs et exposez-les à +105±20C pendant 250 heures.À la fin de la période d'exposition, les éprouvettes doivent être conditionnées dans les conditions ambiantes de la pièce pendant 1 à 2 heures, après quoi les mesures spécifiées doivent être effectuées.(EIA-364-17, condition 4, méthode A) Pas de dommage;Résistance de contact : Contact : Modification de la valeur initiale = 30 mΩ Max. ;Shell : Changement de la valeur initiale = 50mΩ Max.
Capacité de soudure Tremper les queues de soudure dans la soudure fondue (maintenue à 245 ± 3 ℃) jusqu'à 1,2 mm du bas du boîtier pendant 3 à 5 secondes. 95 % de la zone immergée ne doit présenter aucun vide ni trou d'épingle
Résistance à la chaleur de soudure Référez-vous à la méthode de soudure ;Les conditions spécifiées au paragraphe 5 doivent être répétées deux fois Pas de dommage

● CONDITION DE REFLUX INFRAROUGE RECOMMANDÉE:

 Graphique des conditions de température

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● SÉQUENCE D'ESSAI

 

Article

Groupe d'essai

G1

G2

G3

G4

G5

G6

G7

G8

G9

G10

Apparence

1,4

1,5,9

1,5,8

1,3

1

1,4

1,4

1,4

1,4

Résistance de contact de bas niveau

2,5

2,6,10

6,9

2,5

2,5

2,5

Tension de tenue diélectrique

2

La resistance d'isolement

3

Courant nominal de contact

2

Tension nominale appliquée

4

Décharge électrostatique

4

TMDS signale l'impédance du domaine temporel

2

Atténuation

3

Force d'insertion/force de retrait (pas de verrous)

3,7,11

Force de verrouillage

(6)

Force d'extraction terminale

1

Durabilité

4,8

Vibration

3

Choc thermique

4

Basse température

3

Humidité

7

Vieillissement thermique

3

Brouillard de sel

3

Capacité de soudure

2

Résistance à la chaleur de soudure

3

Nombre d'échantillons (ENSEMBLES)

2

2

2

2

2

2

2

2

2

REMARQUES : Les chiffres indiquent l'ordre dans lequel les tests sont effectués.


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